Ian Hill
Student
Doctor of Philosophy in Electrical and Computer Engineering (PhD)
Optimal experiment design for accelerated testing of integrated circuit wear-out reliability
Microelectronics and integrated circuits
This subclass comprises research and experimental development in microelectronics and integrated circuits.
Parent Category
French Name
Microélectronique et circuits intégrés
French Description
Cette sous-classe comprend la recherche et le développement expérimental en microélectronique et circuits intégrés.